半導(dǎo)體芯片要進(jìn)入汽車供應(yīng)鏈，首先面臨的門檻是產(chǎn)品必須獲得車規(guī)級別質(zhì)量認(rèn)證，也即AEC-Q系列測試認(rèn)證。針對不同產(chǎn)品類別，分別適用不同的系列標(biāo)準(zhǔn)：AEC-Q100/101/102/103/104/200等。要通過這個測試認(rèn)證，具有一定難度，若企業(yè)之前是普通消費(fèi)電子類芯片企業(yè)，幾乎不可能一次性能通過測試。難度表現(xiàn)在：

■ 測試項(xiàng)目涵蓋了幾乎所有汽車使用過程中可能對芯片造成影響的應(yīng)力驗(yàn)證：包括-40℃~150℃的寬范圍環(huán)境溫度疊加負(fù)荷工作應(yīng)力；水汽/鹽霧/工業(yè)廢氣等化學(xué)應(yīng)力；顛簸/振動/跌落等機(jī)械應(yīng)力；電磁輻射干擾/靜電等電磁應(yīng)力

■ 大量采用加速壽命試驗(yàn)方案驗(yàn)證產(chǎn)品使用壽命內(nèi)的可靠度：單項(xiàng)試驗(yàn)時長達(dá)1000h

■ 驗(yàn)證樣品量大：完成全部項(xiàng)目驗(yàn)證需要3個批次獨(dú)立樣品數(shù)量共達(dá)上千顆

■ 驗(yàn)證范圍全面：驗(yàn)證內(nèi)容涵蓋芯片設(shè)計(jì)、晶元、封裝各環(huán)節(jié)

■ 高可靠度與一致性：所有驗(yàn)證項(xiàng)目，上千顆樣品，要求“零”失效

AEC-Q100測試流程